2、在Xrad(Si)/s劑量率下,輻照累積總劑量至Xkrad(Si)后,全部器件電參數(shù)合格,功能正常;
2.At the dose rate of Xrad (Si)/s, when the accumulated irradiation dose reaches Xkrad (Si), all the devices pass the electrical parameter test.
現(xiàn)場監(jiān)測電源電流變化曲線見圖2:
Please refer to Fig.2 for the curves of on-spot monitored changes of power supply current:
3、輻照前測試數(shù)據(jù)與輻照后測試數(shù)據(jù)對比見附表。
3. The comparison on test data before irradiation and after irradiation is shown in the attached table.
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